厚膜電路作為微組裝的核心連接載體,其為裸芯片提供安裝面,同時實現(xiàn)裸芯片與印刷金層的電氣連接.本文通過采用正交試驗方法,探討了以厚膜電路作為支撐基板的金絲球焊鍵合工藝技術(shù)的重要工藝參數(shù),壓力,超聲功率,超聲時間,溫度對鍵合拉力強(qiáng)度的影響,并得出工藝參數(shù)與鍵合拉力強(qiáng)度之間的影響曲線變化圖,以及不同工藝參數(shù)之間的影響力大小.同時并結(jié)合不同的鍵合參數(shù)能量下焊點的外貌,進(jìn)一步闡述工藝參數(shù)對焊點的可靠性的影響.